Ellipsometri Kjelder | Navigasjonsmeny


Optisk metrologiRadiometriSpektroskopi


optiskPolarisertrefleksjonenatomlagteknologiforskinghalvleiararLeif TronstadArthur Baker WinterbottomOla HunderiNTNU




Ellipsometri er ein optisk metode til måling av særs tynne sjikt på materialoverflater. Polarisert ljos blir sendt mot ei overflate slik at polarisasjonen av utgangslyset (refleksjonen) er avhengig av eigenskapar på overflata til materialen. Målemetoden kan vise belegg ned til éit atomlag. Ellipsometri er mykje i bruk innan teknologi og forsking, og blir mellom anna brukt til å måle belegg på halvleiarar. Viktige bidrag til utviklinga av teknikken vart gjeve av NTH-professorane Leif Tronstad (1903–45) og Arthur Baker Winterbottom (1904–78), og dessutan professor Ola Hunderi ved same stad (frå 1996 NTNU).



Kjelder |


  • ellipsometri. I Store norske leksikon. Henta frå: http://snl.no/ellipsometri



Popular posts from this blog

Gersau Kjelder | Navigasjonsmeny46°59′0″N 8°31′0″E46°59′0″N...

Hestehale Innhaldsliste Hestehale på kvinner | Hestehale på menn | Galleri | Sjå òg |...

What is the “three and three hundred thousand syndrome”?Who wrote the book Arena?What five creatures were...